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| 設(shè)備類型 | HAST加速老化試驗箱 | 普通老化試驗箱 |
|---|---|---|
| 全稱 | 高壓加速應(yīng)力測試（Highly Accelerated Stress Test） | 通用老化試驗箱（Accelerated Aging Chamber） |
| 測試原理 | 通過高溫（130℃±2℃）+高濕（>95% RH）加速材料/器件失效 | 通過恒溫（通常85℃±2℃）模擬長期環(huán)境老化 |
| 加速機制 | 壓力差加速水分子滲透，縮短測試周期（3-7天） | 熱應(yīng)力主導(dǎo)，周期較長（7-30天） |
數(shù)據(jù)來源：
IEC 60068-2-78:2021（HAST標(biāo)準(zhǔn)）
ASTM G154-23（普通老化參考標(biāo)準(zhǔn)）
| 參數(shù) | HAST | 普通老化試驗箱 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 100-135℃（峰值135℃） | 50-150℃（常規(guī)50-100℃） |
| 濕度控制 | 飽和蒸汽加濕（>95% RH） | 部分型號支持加濕（≤85% RH） |
| 壓力環(huán)境 | 高壓密閉環(huán)境（需耐壓設(shè)計） | 常壓環(huán)境 |
| 測試周期 | 3-7天（加速因子≥1000倍） | 7-30天（加速因子10-100倍） |
| 適用標(biāo)準(zhǔn) | MIL-STD-883 Method 1019.7（2022版） | GB/T 1498.1-2020（通用老化） |
| 應(yīng)用場景 | HAST | 普通老化試驗箱 |
|---|---|---|
| 典型行業(yè) | 半導(dǎo)體封裝、航空航天電子、汽車電子 | 塑料、橡膠、涂料、電線電纜 |
| 測試對象 | IC芯片、LED封裝、PCB板 | 塑料制品、絕緣材料、涂層材料 |
| 失效模式 | 焊點腐蝕、封裝開裂、水汽滲透 | 材料脆化、變色、機械性能下降 |
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